基于随机波前相位调制的压缩光谱成像系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201210266203.6
IPC分类号：G01J3/28
申请日期：
2012-07-30
申请人：
中国科学院上海光学精密机械研究所

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著录项信息

专利名称	基于随机波前相位调制的压缩光谱成像系统
申请号	CN201210266203.6	申请日期	2012-07-30
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2012-12-12	公开/公告号	CN102818631A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/28 光谱测试（应用滤色器的入G01J 3/51）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;2;8查看分类表>
申请人	中国科学院上海光学精密机械研究所	申请人地址	江苏省南京市经济技术开发区恒飞路19号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	南京先进激光技术研究院	当前权利人	南京先进激光技术研究院
发明人	韩申生;吴建荣;沈夏
代理机构	上海新天专利代理有限公司	代理人	张泽纯

摘要

一种基于随机波前相位调制的压缩光谱成像系统，该系统的构成至少包括前置成像物镜、随机波前相位调制器、光电探测器和计算机，所述的前置成像物镜将物面成像于第一成像面上，在该第一成像面后设置随机波前相位调制器和光电探测器，所述的光电探测器的输出端与计算机的输入端相连。该压缩光谱成像系统基于压缩感知理论，对光谱图像数据进行三维压缩采集，大大降低了数据采集量。它可以工作在单次多点测量模式或多次多点测量模式，也可以工作在多次单点测量模式，且探测单元无需在探测面上紧密排布，排布形状可以随意选择。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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