在非易失性存储器中存储插针校准数据、命令和其他数据的半导体测试系统

发明专利无效专利

申请号：
CN200480005082.3
IPC分类号：G06F11/14;G06F11/07
申请日期：
2004-01-09
申请人：
爱德万测试株式会社

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	在非易失性存储器中存储插针校准数据、命令和其他数据的半导体测试系统
申请号	CN200480005082.3	申请日期	2004-01-09
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2006-03-29	公开/公告号	CN1754154
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F11/14 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F11/00 错误检测；错误校正；监控（在基于记录载体和传感器之间的相对运动而实现的信息存储中的错误检测、校正或监控所用的方法或装置入 G11B 20/18；监控，即，监控记录或重现的进程入G11B 27/36；静态存储中所用的方法或装置入G11C29/00）〔1，4，2006.01〕 G06F11/07 响应错误的产生，例如，容错〔7〕 G06F11/14 用运算中的冗余作数据的错误检测或校正，例如，通过采用导致相同结果的不同运算序列（G06F 11/16优先）〔3〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;1;/;1;4;;;G;0;6;F;1;1;/;0;7查看分类表>
申请人	爱德万测试株式会社	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	爱德万测试株式会社	当前权利人	爱德万测试株式会社
发明人	若企特·雷吉苏曼;罗伯·萨乌尔;裕明·矢元
代理机构	北京中原华和知识产权代理有限责任公司	代理人	寿宁

摘要

一种在非易失性存储器中存储插针校准数据、命令和其他数据的半导体测试系统，该系统接受来自多个供货商的插针卡，每个插针卡都包括一能存储特定校准数据的本地非易失性存储器。测试系统中的每个插针卡都能对被测元件执行不同类型的测试。插针卡上的非易失性存储器被用来存储插针卡校准数据，且与负载板和插座相关的校准数据也可被本地存储于每个插针卡的非易失性存储器中。与插针卡插槽相关的校准数据可被存储于测试系统底板上的非易失性存储器中并被用于校准插针卡的槽对槽偏斜。本地非易失性存储器还可被用于存储在模块、现场控制器和系统控制器中生成的或在其之间传送的命令、数据和错误信息，这样如果发生系统错误，将不必重新生成这些信息。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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