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用于检测粒度和/或粒形的分析设备

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201210228879.6
  • IPC分类号:G01N15/02;G01N15/00
  • 申请日期:
    2012-07-02
  • 申请人:
    清华大学
著录项信息
专利名称用于检测粒度和/或粒形的分析设备
申请号CN201210228879.6申请日期2012-07-02
法律状态驳回申报国家中国
公开/公告日2012-11-07公开/公告号CN102768172A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N15/02IPC分类号G;0;1;N;1;5;/;0;2;;;G;0;1;N;1;5;/;0;0查看分类表>
申请人清华大学申请人地址
北京市海淀区清华园北京市-82信箱 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人清华大学当前权利人清华大学
发明人张凯红;赵宏生;刘小雪;李自强;唐春和
代理机构北京路浩知识产权代理有限公司代理人王莹
摘要
本发明提供了一种用于检测粒度和/或粒形的分析设备,包括:进样装置(1),用于测试样品的装入并输送到分散系统(3);计数装置(2),用于记录测试样品的数目;分散系统(3),用于供测试样品在下落过程中经过从而进入测试区域;光源(4),用于提供照射光源;成像系统(5),用于采集测试样品的动态图像信息,并传送到图像处理系统(6);图像处理系统(6),用于显示测试样品动态图像,进行处理并输出测试样品的粒度和/或粒形数据。本发明克服了现有设备的检测速度、数据可靠性、操作便利性等方面存在的缺点,易于实现自动化操作,且能使工作效率得到明显提高。

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供