缺陷检测装置、缺陷检测方法以及程序

发明专利有效专利

申请号：
CN201880075641.X
IPC分类号：G01N29/44;G01N29/26;G01N29/30;G01N29/48
申请日期：
2018-12-11
申请人：
日本制铁株式会社

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	缺陷检测装置、缺陷检测方法以及程序
申请号	CN201880075641.X	申请日期	2018-12-11
法律状态	实质审查	申报国家	暂无
公开/公告日	2020-07-03	公开/公告号	CN111373254A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N29/44 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N29/20 （转入G01N 29/032，G01N 29/11） G01N29/44 处理探测的响应信号〔8〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;9;/;4;4;;;G;0;1;N;2;9;/;2;6;;;G;0;1;N;2;9;/;3;0;;;G;0;1;N;2;9;/;4;8查看分类表>
申请人	日本制铁株式会社	申请人地址	日本东京变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	日本制铁株式会社	当前权利人	日本制铁株式会社
发明人	上田佳央;冈本康平
代理机构	永新专利商标代理有限公司	代理人	夏斌

摘要

本发明涉及缺陷检测装置、缺陷检测方法以及程序。缺陷检测装置具备：超声波波形数据生成部(123)，按照构成接收超声波振子(114)的每个超声波振子(111)，生成按时间序列表示由接收部(132)接收到的反射超声波束的振幅的超声波波形数据；超声波波形数据处理部(124)，使用用于按照构成接收超声波振子(114)的每个超声波振子(111)来调整超声波波形数据的原点时刻的原点时刻调整模式、且是设定了相控阵探头(110)与焊接部(210)之间的多个相对位置关系的多个原点时刻调整模式，按照每个原点时刻调整模式，进行对被调整了原点时刻的超声波波形数据进行合成的处理而生成合成超声波波形数据；以及缺陷判定部(125)，基于合成超声波波形数据，判定在焊接部(210)是否存在缺陷(211)。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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