用于检测物体接近的静电电容式检测装置、传感器单元、控制系统以及其方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201080036688.9
IPC分类号：G01V3/08;B60J5/00
申请日期：
2010-07-05
申请人：
胜美达集团株式会社

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	用于检测物体接近的静电电容式检测装置、传感器单元、控制系统以及其方法
申请号	CN201080036688.9	申请日期	2010-07-05
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2012-05-23	公开/公告号	CN102472827A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01V3/08 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01V 地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物（用于指示因事故被掩埋的人的位置，例如，被雪掩埋的人的位置的装置入A63B 29/02）〔4，6〕 G01V3/00 电或磁的勘探或探测；；地磁场特性的测量；例如，磁偏角或磁偏差〔2，4〕 G01V3/08 通过被测目标或地质结构或通过探测装置产生或改变磁场或电场进行操作的（用电磁波的入G01V 3/12）	IPC分类号	G;0;1;V;3;/;0;8;;;B;6;0;J;5;/;0;0查看分类表>
申请人	胜美达集团株式会社	申请人地址	日本东京变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	胜美达集团株式会社	当前权利人	胜美达集团株式会社
发明人	三浦芳则;守屋仁;六嘉孝信
代理机构	北京三友知识产权代理有限公司	代理人	李辉;黄纶伟

摘要

本发明提供了一种装置以及其使用方法，该装置以及使用方法可以高精度地检测出应被检测出的物体对象的接近。具体而言，计量部(210)计量出第1以及第2传感器电极(120、133)上的杂散电容，根据这里计测出的杂散电容，判定部(220)算出所计量的杂散电容在规定时间长的时间里的平均时间变化率。接着，判定部(220)，判定出是否下述接近检测条件得到了满足，即包含由检测对象以及与前述检测对象的相异处应能被辨别出来的物体的组合而决定的预定时间变化率，与算出的平均时间变化率之间大小关系是属于预定关系的接近检测条件。在这个接近检测条件得到满足的情况下，判定部(220)判定出检测对象已接近。

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