单端口测试微波腔体滤波器级间耦合系数的测量方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200810044357.4
IPC分类号：G01R27/26
申请日期：
2008-05-07
申请人：
中国电子科技集团公司第十研究所

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著录项信息

专利名称	单端口测试微波腔体滤波器级间耦合系数的测量方法
申请号	CN200810044357.4	申请日期	2008-05-07
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2008-11-12	公开/公告号	CN101303379
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R27/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R27/00 测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置 G01R27/02 电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量（仅仅通过测量相位角的入G01R 25/00） G01R27/26 电感或电容的测量；品质因数的测量，例如通过应用谐振法；损失因数的测量；介电常数的测量	IPC分类号	G;0;1;R;2;7;/;2;6查看分类表>
申请人	中国电子科技集团公司第十研究所	申请人地址	四川省成都市金牛区外西茶店子东街48号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国电子科技集团公司第十研究所	当前权利人	中国电子科技集团公司第十研究所
发明人	唐波
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明涉及的一种单端口测试微波腔体滤波器级间耦合系数测量方法，包括下列步骤：用接含有数据采集软件程序的计算机连接测试仪器，并与与被测件建立测试平台；在测试仪器的一个端口上测量被测件的反射参数S11，并通过GPIB接口传输到个人计算机，在计算机中计算耦合系数，移动网络分析仪的频率标记，在测试曲线上找到S11的传输零点，根据公式计算出第一与第二个腔体的耦合系数M12和第二和第三个腔体的耦合系数M23，或第三和第四个腔体的耦合系数M34。本发明采用单端口测试，不需单独加工测试附近，可直接在需调试的滤波器上进行测试。避免了现有技术加工测试附件辅助测量级间耦合系数的复杂性和不方便性，节约了成本，且测试精度高。

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