单孔径多重成像的光学成像测距装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200610118430.9
IPC分类号：G01C3/00;G01C3/08;G02B27/00
申请日期：
2006-11-17
申请人：
中国科学院上海光学精密机械研究所

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专利名称	单孔径多重成像的光学成像测距装置
申请号	CN200610118430.9	申请日期	2006-11-17
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2007-05-09	公开/公告号	CN1959341
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01C3/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01C 测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学（液体水平面的测量入G01F；无线电导航，通过利用无线电波的传播效应，例如多普勒效应，传播时间来测定距离或速度，利用其他波的类似装置入G01S） G01C3/00 视距测量；光学测距仪（测量长度的卷尺、测链或测轮入G01B 3/00；有源三角测量系统，即使用除了无线电波之外的电磁波的发射和反射入G01S 17/48）〔1，8〕	IPC分类号	G;0;1;C;3;/;0;0;;;G;0;1;C;3;/;0;8;;;G;0;2;B;2;7;/;0;0查看分类表>
申请人	中国科学院上海光学精密机械研究所	申请人地址	上海市800-211邮政信箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海光学精密机械研究所	当前权利人	中国科学院上海光学精密机械研究所
发明人	阳庆国;刘立人;栾竹;刘德安;孙建锋
代理机构	上海新天专利代理有限公司	代理人	张泽纯

摘要

一种单孔径多重成像的光学成像测距装置，其特征在于构成：同光轴地依次包括成像主透镜、多重成像元件、场镜和光电探测器，该光电探测器的输出端接数字图像处理器，所述的成像主透镜与多重成像元件紧贴在一起，所述的数字图像处理器用于处理由光电探测器采样的数字图像，提取物体的深度信息的数据处理软件。本发明只需单次成像，即可获得完备的成像，而且系统结构紧凑，易于装配，不需要复杂的相机定位和标定，测距算法简单，可快速地获得物体的深度信息。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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