一种托盘式集成电路芯片测试装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201710125086.4
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2017-03-03
申请人：
深圳凯智通微电子技术有限公司

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著录项信息

专利名称	一种托盘式集成电路芯片测试装置
申请号	CN201710125086.4	申请日期	2017-03-03
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2017-05-24	公开/公告号	CN106707141A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	深圳凯智通微电子技术有限公司	申请人地址	广东省深圳市宝安区福永街道稔田社区稔田工业区第14栋第二层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳凯智通微电子技术有限公司	当前权利人	深圳凯智通微电子技术有限公司
发明人	陈家峰;蒋伟;段超毅
代理机构	深圳市中科创为专利代理有限公司	代理人	高早红;谢亮

摘要

本发明公开了一种托盘式集成电路芯片测试装置，包括测试机架和接触导通用探针模组；其中，测试机架上设置测试料盘载盘、以及使测试料盘载盘升降运动的气动升降部件，并且，测试料盘载盘还设置有对测试料盘进行限位的限位部件、以及升降感应及控制器；接触导通用探针模组包括有托板、托板上由上往下设置有转接插槽、PCB固定板、PCB转接板、探针A板、探针B板和测试探针，其中，测试探针分别固定在探针A板和探针B板内，并与PCB转接板接触连通。本发明可以对待测IC进行整盘测试，测试效率高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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