一种芯片系统的显示接口测试方法及装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201610235826.5
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2016-04-15
申请人：
福州瑞芯微电子股份有限公司

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著录项信息

专利名称	一种芯片系统的显示接口测试方法及装置
申请号	CN201610235826.5	申请日期	2016-04-15
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2016-08-24	公开/公告号	CN105891638A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	福州瑞芯微电子股份有限公司	申请人地址	福建省福州市鼓楼区软件大道89号18号楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	瑞芯微电子股份有限公司	当前权利人	瑞芯微电子股份有限公司
发明人	刘梅英
代理机构	福州市鼓楼区京华专利事务所（普通合伙）	代理人	王美花

摘要

本发明提供一种芯片系统的显示接口测试方法，包括控制器发送预设的输出数据给待测显示接口输出测试信号；将输出的测试信号转换成24bit并行的RGB数据信号；将24bit并行的RGB数据信号合并成一组数据输出；采集输出的一组数据，将采集的数据与预设的输出数据进行比对，得出测试结果。本发明优点如下：可以通过小规模的可编程逻辑器件(或通过搭建组合逻辑电路)做数据的合并，并辅助测试，不仅可以省去数据分时采集的时间，提高显示接口的测试速率，且可以降低芯片显示接口的测试成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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