热继电器双金属片检测装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201220290440.1
IPC分类号：G01B21/00
申请日期：
2012-06-20
申请人：
苏州工业园区高登威科技有限公司

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著录项信息

专利名称	热继电器双金属片检测装置
申请号	CN201220290440.1	申请日期	2012-06-20
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B21/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B21/00 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件〔3〕	IPC分类号	G;0;1;B;2;1;/;0;0查看分类表>
申请人	苏州工业园区高登威科技有限公司	申请人地址	江苏省苏州市工业园区展业路8号中新科技工业坊2-2F-A单元变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	苏州工业园区高登威科技有限公司	当前权利人	苏州工业园区高登威科技有限公司
发明人	李佳
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型提供一种热继电器双金属片检测装置，用于检测热继电器双金属片的位置状态，其包括：检测模块，用于检测热继电器双金属片位置状态；显示装置，该显示装置与所述检测模块电性连接，用于显示表征所述热继电器双金属片位置状态的计量值；升降机构，包括基台以及为基台提供上升及下降动力的升降泵，检测模块设置于所述基台上。通过设置与检测模块配合的升降机构，使得在热继电器生产流水线上，可以实时连贯地完成对热继电器双金属片位置的检测。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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