开发半导体集成电路测试程序的方法和结构

发明专利无效专利

申请号：
CN200580016396.8
IPC分类号：G01R31/319;G01R31/3183;G06F11/26;G06F17/50
申请日期：
2005-05-23
申请人：
株式会社爱德万测试

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著录项信息

专利名称	开发半导体集成电路测试程序的方法和结构
申请号	CN200580016396.8	申请日期	2005-05-23
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2007-06-27	公开/公告号	CN1989417
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/319 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/317 数字电路的测试〔6〕 G01R31/3181 性能测试（G01R 31/3177优先）〔6〕 G01R31/319 测试器硬件，即输出处理电路〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;1;9;;;G;0;1;R;3;1;/;3;1;8;3;;;G;0;6;F;1;1;/;2;6;;;G;0;6;F;1;7;/;5;0查看分类表>
申请人	株式会社爱德万测试	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社爱德万测试	当前权利人	株式会社爱德万测试
发明人	哈森吉特·辛格;安康·普拉马尼克;马克·埃尔斯顿;田原善文;足立敏明
代理机构	北京集佳知识产权代理有限公司	代理人	杨生平;杨红梅

摘要

公开了一种用于在模块测试系统中管理模式目标文件的方法。该方法包括提供一个模块测试系统，其中该模块测试系统包括一个系统控制器，用于控制至少一个站点控制器，且其中所述至少一个站点控制器控制至少一个测试模块和其对应的被测试设备(DUT)。该方法还包括创建一个目标文件管理框架，用于在设备提供商提供的模式编译器和模块测试系统之间建立一个标准接口；接收模式源文件；根据该模式源文件，使用该目标文件管理框架创建一个模式目标图元文件；以及使用该模式目标图元文件，通过测试模块测试被测试的设备。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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