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热分析方法和装置

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN03817665.3
  • IPC分类号:G05D23/19
  • 申请日期:
    2003-07-30
  • 申请人:
    松下电器产业株式会社
著录项信息
专利名称热分析方法和装置
申请号CN03817665.3申请日期2003-07-30
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2005-09-21公开/公告号CN1672107
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G05D23/19IPC分类号G;0;5;D;2;3;/;1;9查看分类表>
申请人松下电器产业株式会社申请人地址
日本大阪府 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人松下电器产业株式会社当前权利人松下电器产业株式会社
发明人野野村胜;矶端美伯;大西浩昭;谷口昌弘
代理机构中科专利商标代理有限责任公司代理人王玮
摘要
通过使用在目标测量点测量的温度(Tint和Ts)以及加热炉的测量位置处的加热温度(Ta)和加热时间(t),把在加热炉的任何测量位置处的目标的任何测量点的加热特性值确定为单个不变量。不用使用目标的物理特性就可以计算加热特性值(m值)。通过使用m值,在短时间期间内可模拟修改后加热条件下的被加热目标的温度曲线,而不需以很高的精度实际加热和测量目标的温度。通过使用这种模拟,可以容易确定用于根据所需加热条件加热目标的合适加热条件。

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