掉落式玉米果穗穗部全息性状快速测量系统及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201510229679.6
IPC分类号：G01N21/84
申请日期：
2015-05-07
申请人：
中国农业大学

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著录项信息

专利名称	掉落式玉米果穗穗部全息性状快速测量系统及方法
申请号	CN201510229679.6	申请日期	2015-05-07
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-08-26	公开/公告号	CN104865259A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/84 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;8;4查看分类表>
申请人	中国农业大学	申请人地址	北京市海淀区圆明园西路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国农业大学	当前权利人	中国农业大学
发明人	马钦;王越;周金辉;朱德海;张晓东;郭浩;李绍明;刘哲;张帆
代理机构	北京路浩知识产权代理有限公司	代理人	李相雨

摘要

本发明提供一种掉落式玉米果穗穗部全息性状快速测量系统及方法，该系统包括：传送装置，用于使单穗玉米果穗呈竖直状态依次掉落；与传送装置连接的图像采集装置，用于采集掉落的单穗玉米果穗全方位图像；与图像采集装置连接的处理装置，用于控制图像采集装置采集单穗玉米果穗的全方位图像，以及获取图像采集装置采集的单穗玉米果穗的全方位图像，将其进行拼合，根据全方位图像的视差进行三维空间坐标的计算，对单穗玉米果穗的空间分布信息进行还原，从而计算得到单穗玉米果穗的穗部性状参数。上述系统能实现无损测量玉米果穗的穗部考种性状和穗选性状的参数，测量速度快，测量结果更精确，成本更低，效率更高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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