一种基于预扫描和非均匀采样的薄层快速磁共振成像方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201410313197.4
IPC分类号：A61B5/055;G06T5/00;G06F19/00
申请日期：
2014-07-01
申请人：
中国科学院武汉物理与数学研究所

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著录项信息

专利名称	一种基于预扫描和非均匀采样的薄层快速磁共振成像方法
申请号	CN201410313197.4	申请日期	2014-07-01
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-09-17	公开/公告号	CN104042216A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	A61B5/055 ? IPC结构图谱： A 人类生活必需 A6 保健；救生；娱乐 A61 医学或兽医学；卫生学 A61B 诊断；外科；鉴定（分析生物材料入G01N，如G01N33/48） A61B5/00 用于诊断目的的测量（放射诊断入A61B6/00；超声波、声波或次声波诊断入A61B8/00）；人的辨识 A61B5/05 用电流或磁场的诊断测量（A61B 5/02，A61B 5/04，A61B 5/11优先）〔5〕 A61B5/055 包含电磁共振〔EMR〕或核磁共振〔NMR〕的，例如磁共振成像〔5〕	IPC分类号	A;6;1;B;5;/;0;5;5;;;G;0;6;T;5;/;0;0;;;G;0;6;F;1;9;/;0;0查看分类表>
申请人	中国科学院武汉物理与数学研究所	申请人地址	湖北省武汉市武昌区八一路变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院武汉物理与数学研究所	当前权利人	中国科学院武汉物理与数学研究所
发明人	吕植成;周欣;孙献平;蒋滨;叶朝辉;刘买利
代理机构	武汉宇晨专利事务所	代理人	李鹏;王敏锋

摘要

本发明公开了一种基于预扫描和非均匀采样的薄层快速磁共振成像方法，此方法适用于层厚较薄的多层磁共振成像过程。在成像过程中，由于层厚薄磁共振信号的信噪比较差，通常需要使用对同一层面信号进行多次采集然后平均的方式来提高信噪比，这使得成像时间较长。本发明公开的成像方法首先通过对各扫描层的单次预扫描获取各层信噪比较低的数据，然后对各层k空间数据进行分析，提取各层k空间数据中大信号的位置信息。在接下来的重复扫描过程中，结合非均匀采样方法只对各层k空间中的大信号区域多次采样提高信噪比，而不是对整个k空间进行多次采样。通过这种方法实现在更短时间内获取和传统方法相比质量相当或更高质量的图像。

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