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一种基于惠斯通电桥和锁相放大器的微K量级温度测量装置

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201910918601.3
  • IPC分类号:G01K7/20
  • 申请日期:
    2019-09-26
  • 申请人:
    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
著录项信息
专利名称一种基于惠斯通电桥和锁相放大器的微K量级温度测量装置
申请号CN201910918601.3申请日期2019-09-26
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2019-12-03公开/公告号CN110530547A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01K7/20IPC分类号G;0;1;K;7;/;2;0查看分类表>
申请人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请人地址
吉林省长春市东南湖大路3888号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所当前权利人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人王玉坤;王智;沙巍;于涛;齐克奇;王少鑫;方超;隋延林
代理机构长春众邦菁华知识产权代理有限公司代理人李青
摘要
一种基于惠斯通电桥和锁相放大器的微K量级温度测量装置涉及高精度信号测量领域,该装置包括:惠斯通桥路、锁相放大模块和模数转换模块;所述惠斯通桥路惠斯通电桥包括三个参考电阻、一个测温电阻和两个射随器;第一射随器的一端与所述测温电阻的一端连接,另一端与所述锁相放大采集模块连接;第二射随器的一端与所述测温电阻的另一端连接,另一端与相邻参考电路的一端连接,所述相邻参考电阻的另一端与所述锁相放大采集模块连接,所述锁相放大采集模块与模数转换模块相连。本发明将惠斯通电桥和锁相放大器相结合,实现10‑6量级温度采集。同时在测温电阻两端引入射随器,锁相放大器频率选择在5kHz至15kHz之间,避免其他电阻和寄生电容对测量精度的影响。

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