一种多功能光子暗化效应测试装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201721549612.1
IPC分类号：G01M11/02
申请日期：
2017-11-20
申请人：
武汉长进激光技术有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种多功能光子暗化效应测试装置
申请号	CN201721549612.1	申请日期	2017-11-20
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	武汉长进激光技术有限公司	申请人地址	湖北省武汉市东湖高新技术开发区高新大道999号未来科技城A座6楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉长进激光技术有限公司	当前权利人	武汉长进激光技术有限公司
发明人	李海清;刘长波;李进延
代理机构	武汉智嘉联合知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	黄君军

摘要

本实用新型公开了一种多功能光子暗化效应测试装置，其包括：半导体激光器、氦氖激光器、第一波分复用器、高反光栅、加热装置、低反光栅、第二波分复用器、第一功率探测器及第二功率探测器，半导体激光器及氦氖激光器与第一波分复用器的输入端连接，高反光栅的一端与第一波分复用器的输出端连接，高反光栅的另一端伸入加热装置内并形成一高反光栅熔接端，低反光栅的一端与第二波分复用器的输入端连接，低反光栅的另一端伸入加热装置内并形成一低反光栅熔接端，第一功率探测器及第二功率探测器与第二波分复用器的输出端连接。该多功能光子暗化效应测试装置可以同时观测到信号光和输出激光功率在光子暗化诱发过程中的变化。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供