一种基于负曲率光子晶体光纤的SPR低折射率传感器

发明专利有效专利

申请号：
CN201910057172.5
IPC分类号：G01N21/41
申请日期：
2019-01-22
申请人：
北京交通大学

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专利名称	一种基于负曲率光子晶体光纤的SPR低折射率传感器
申请号	CN201910057172.5	申请日期	2019-01-22
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2019-05-14	公开/公告号	CN109752345A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/41 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/41 折射率；影响相位的性质，例如光程长度（G01N 21/21优先）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;4;1查看分类表>
申请人	北京交通大学	申请人地址	北京市海淀区西直门外上园村3号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京交通大学	当前权利人	北京交通大学
发明人	裴丽;王建帅;王吉;吴良英
代理机构	北京市诚辉律师事务所	代理人	王玉

摘要

本发明公开了一种基于负曲率光子晶体光纤的SPR低折射率传感器，其特征在于：SPR传感器基于光子晶体光纤结构，光子晶体光纤基底为(1)，光子晶体光纤的芯子(2)由两层空气壁(3)、(4)围绕形成，每层空气壁由六个相同负曲率的扇形环构成，光子晶体光纤的包层外壁涂覆有金属(5)，金属由待测物质(6)包覆，金属材料具有金属表面等离子体谐振SPR效应，与光纤中的纤芯模式发生耦合，在谐振波长处出现损耗峰，当外部待测物质(6)发生变化时，损耗峰波长漂移，通过观测波长的漂移，实现折射率的测量，传感器具有偏振无关特性且适用于低折射率范围为1.2‑1.33，传感器灵敏度最高达到12000nm/RIU，该传感器为低折射率物质的测量与监测提供重要的器件支持。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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