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存储芯片集成电路性能的检测设备

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN202123292767.0
  • IPC分类号:G01R31/28
  • 申请日期:
    2021-12-25
  • 申请人:
    明途半导体(东莞)有限公司
著录项信息
专利名称存储芯片集成电路性能的检测设备
申请号CN202123292767.0申请日期2021-12-25
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/28IPC分类号G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人明途半导体(东莞)有限公司申请人地址
广东省东莞市凤岗镇凤岗康佳路16号101室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人明途半导体(东莞)有限公司当前权利人明途半导体(东莞)有限公司
发明人吴黎明
代理机构东莞技创百科知识产权代理事务所(普通合伙)代理人暂无
摘要
本实用新型公开了存储芯片集成电路性能的检测设备,包括传动结构、检测结构、送料结构和底板;所述传动结构、所述检测结构和所述送料结构均安装在所述底板上;传动结构用于传动承载集成电路的电路板,送料结构用于连续将承载有集成电路的电路板输送到传动结构中,并通过限位板和支撑板进行支撑和限位,对电路板进行传动过程中,通过启动电动推杆带动检测连接头插接入电路板的电路连口,并配合电路集成检测器对电路进行检测,实现对集成电路的连续性检测,且工作人员只需要将需要进行检测的电路板放置到放置箱中即可进行连续性检测。

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