一种高稳定大光程差共光路干涉分光装置及其应用系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201710144240.2
IPC分类号：G01J3/45
申请日期：
2017-03-10
申请人：
中国科学院西安光学精密机械研究所

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专利名称	一种高稳定大光程差共光路干涉分光装置及其应用系统
申请号	CN201710144240.2	申请日期	2017-03-10
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-07-04	公开/公告号	CN106918392A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/45 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/28 光谱测试（应用滤色器的入G01J 3/51）〔4〕 G01J3/45 干涉光谱法〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;4;5查看分类表>
申请人	中国科学院西安光学精密机械研究所	申请人地址	陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院西安光学精密机械研究所	当前权利人	中国科学院西安光学精密机械研究所
发明人	魏儒义;李立英;孙剑;邹纯博;张学敏;段战军;耿波
代理机构	西安智邦专利商标代理有限公司	代理人	胡乐

摘要

本发明提出一种高稳定大光程差共光路干涉分光装置及其应用系统。该高稳定大光程差共光路干涉分光装置采用的共光路Sagnac干涉仪为非对称结构，即共光路Sagnac干涉仪中的反射面的空间位置设置使得最终经共光路Sagnac干涉仪中分束面返回的光束不再与入射光束重合，而是在空间上平行分离；记分束面首次分光得到一级光束，二次分光得到二级光束；则在二次分光前的光路上对应于空间上平行分离的光束还设置有光程调节结构，使得两路一级光束最终产生光程差，以干涉光束出射。在此基础上，本发明还提出了高通量的、高稳定度的相干色散光谱成像系统。

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