一种电子设备加速可靠性增长试验方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201410750612.2
IPC分类号：G01D21/00;G01R31/00
申请日期：
2014-12-10
申请人：
天津航天瑞莱科技有限公司;北京航天斯达科技有限公司;北京强度环境研究所

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种电子设备加速可靠性增长试验方法
申请号	CN201410750612.2	申请日期	2014-12-10
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-07-06	公开/公告号	CN105737881A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01D21/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01D 非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试 G01D21/00 未列入其他类目的测量或测试	IPC分类号	G;0;1;D;2;1;/;0;0;;;G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	天津航天瑞莱科技有限公司;北京航天斯达科技有限公司;北京强度环境研究所	申请人地址	天津市塘沽区开发区西区中北三街9号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	天津航天瑞莱科技有限公司,北京航天斯达科技有限公司,北京强度环境研究所	当前权利人	天津航天瑞莱科技有限公司,北京航天斯达科技有限公司,北京强度环境研究所
发明人	陈永祥;赵帅帅;吴红;张冰;陈立伟;杨博;孙立明;徐海博;冯伟;崔英伟;闫旭东
代理机构	核工业专利中心	代理人	王朋

摘要

本发明可靠性试验技术领域，具体涉及一种电子设备加速可靠性增长试验方法。目的是解决高可靠长寿命电子设备的可靠性水平提高和验证问题。其特征在于，它包括如下步骤：确定正常环境应力剖面、确定加速应力剖面、基于故障分类计算加速系数、确定总试验时间和试验结果评估。本发明提供了一种综合环境应力加速试验的方法，解决了综合环境应力下可靠性试验的加速问题；同时提供了一种加速可靠性增长试验方法，能够在短时间内提高和验证电子设备可靠性水平，解决了高可靠长寿命电子设备可靠性水平的提高和验证问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供