缺陷检测方法及装置、计算机可读存储介质

发明专利有效专利

申请号：
CN201911411819.6
IPC分类号：G06T7/00;G06T7/136;G01N21/958;G01N21/88
申请日期：
2019-12-31
申请人：
上海晨兴希姆通电子科技有限公司

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著录项信息

专利名称	缺陷检测方法及装置、计算机可读存储介质
申请号	CN201911411819.6	申请日期	2019-12-31
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-07-02	公开/公告号	CN113066043A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T7/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T7/00 图像分析〔6，2006.01，2017.01〕	IPC分类号	G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;6;T;7;/;1;3;6;;;G;0;1;N;2;1;/;9;5;8;;;G;0;1;N;2;1;/;8;8查看分类表>
申请人	上海晨兴希姆通电子科技有限公司	申请人地址	上海市青浦区工业园区胜利路888号(崧泽大道10055号) 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海晨兴希姆通电子科技有限公司	当前权利人	上海晨兴希姆通电子科技有限公司
发明人	刘新辉
代理机构	上海晨皓知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	成丽杰

摘要

本发明涉及物品检测领域，公开了一种缺陷检测方法及装置、计算机可读存储介质。其中，缺陷检测方法，包括将透明盖板的一面作为正面、另一面作为背面，在正面上设置标记；获取透明盖板的第一视图和第二视图；根据标记在第一视图中的位置、以及标记在第二视图中的位置，建立透明盖板上各点在第一视图中的位置和在第二视图中的位置的映射关系；根据第一视图和映射关系、获取映射视图；获取同一缺陷在映射视图和第二视图上的位置差值作为映射偏差值，根据映射偏差值判断缺陷位于正面或背面。本发明实施方式所提供的缺陷检测方法及装置、计算机可读存储介质，具有在不额外增加生产成本和占地空间的同时，提升缺陷检测的准确性的优点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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