光学元件缺陷批量自动识别装置和方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201210091055.9
IPC分类号：G06K9/60;G06K9/64;G01N21/958
申请日期：
2012-03-31
申请人：
湖北山鹰光学有限公司

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著录项信息

专利名称	光学元件缺陷批量自动识别装置和方法
申请号	CN201210091055.9	申请日期	2012-03-31
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2013-10-23	公开/公告号	CN103366176A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06K9/60 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06K 数据识别；数据表示；记录载体；记录载体的处理（印刷本身入B41J） G06K9/00 用于阅读或识别印刷或书写字符或者用于识别图形，例如，指纹的方法或装置（用于图表阅读或者将诸如力或现状态的机械参量的图形转换为电信号的方法或装置入G06K 11/00；语音识别入G10L 15/00）〔1，7〕 G06K9/60 图像捕获和多种预处理作用的组合〔3〕	IPC分类号	G;0;6;K;9;/;6;0;;;G;0;6;K;9;/;6;4;;;G;0;1;N;2;1;/;9;5;8查看分类表>
申请人	湖北山鹰光学有限公司	申请人地址	湖北省荆州市松滋市刘家场人民大道28号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	湖北山鹰光学有限公司	当前权利人	湖北山鹰光学有限公司
发明人	詹君;孙鸣洋;刘艾河
代理机构	北京戈程知识产权代理有限公司	代理人	孙向民;王锦阳

摘要

本发明涉及光学元件缺陷批量自动识别装置和方法。光学元件缺陷批量自动识别装置包括光源；支架；图像采集装置；分析装置，采用SIFT算法针对所述多个标准镜片的照片提取多个标准特征向量，形成比对库；对所述图像用拉普拉斯算子进行锐化，并用罗伯特算子进行边缘提取，然后根据上述信息将每一个镜片的图像依次切割成多个子图片；使用SIFT算法依次提取每一个子图片的特征向量，并与比较库中的多个标准特征向量逐一进行比对并判断是否相似，若判断为与该子图片的特征向量相似的标准特征向量的数量低于预定的阈值，则将该子图片标记为不合格镜片。本发明能极大的提高生产效率，增加企业竞争能力。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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