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微小样品密度精确测量的方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200410010503.3
  • IPC分类号:G01N9/10;G01N9/36;G01N9/00
  • 申请日期:
    2004-12-27
  • 申请人:
    中国科学院近代物理研究所
著录项信息
专利名称微小样品密度精确测量的方法
申请号CN200410010503.3申请日期2004-12-27
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2006-07-05公开/公告号CN1796971
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N9/10IPC分类号G;0;1;N;9;/;1;0;;;G;0;1;N;9;/;3;6;;;G;0;1;N;9;/;0;0查看分类表>
申请人中国科学院近代物理研究所申请人地址
甘肃省兰州市南昌路363号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院近代物理研究所当前权利人中国科学院近代物理研究所
发明人侯明东
代理机构兰州振华专利代理有限责任公司代理人张真
摘要
本发明涉及样品密度的高精确度测量方法,尤其涉及一种微小样品密度的高精确度的测量方法。其包括有将待测样品与比化合物液体密度小的已知精确密度的金属丝连接;将金属丝缠绕在样品上浸没于经精确标定密度的化合物液体中,其化合物液体的密度大于所述金属丝密度,而小于样品密度;通过逐步精确调整已知精确密度的金属丝的质量达到缠绕有金属丝的样品在化合物液体中呈现既不上升也不下降的悬浮状态;取出缠绕有金属丝的样品,将金属丝与样品分别精确称重。利用公式Ds=MsDlD/[MsDl-(Dl-D)M]计算待测样品的密度。本发明对毫克级的微小样品密度测量有相当高的精度,可以好于0.5%,而其他密度测量方法对于这样微小样品的测量难以达到这样的精度。

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