加载中...
首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

碳化硅晶体生长方法及生长装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202011401063.X
  • IPC分类号:C30B29/36;C30B7/00;C30B23/00;C30B25/00;C30B25/16
  • 申请日期:
    2020-12-02
  • 申请人:
    中电化合物半导体有限公司
著录项信息
专利名称碳化硅晶体生长方法及生长装置
申请号CN202011401063.X申请日期2020-12-02
法律状态实质审查申报国家暂无
公开/公告日2021-03-26公开/公告号CN112553691A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C30B29/36IPC分类号C;3;0;B;2;9;/;3;6;;;C;3;0;B;7;/;0;0;;;C;3;0;B;2;3;/;0;0;;;C;3;0;B;2;5;/;0;0;;;C;3;0;B;2;5;/;1;6查看分类表>
申请人中电化合物半导体有限公司申请人地址
浙江省宁波市杭州湾新区兴慈一路290号3号楼105-1室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中电化合物半导体有限公司当前权利人中电化合物半导体有限公司
发明人马远;潘尧波
代理机构上海光华专利事务所(普通合伙)代理人佟婷婷
摘要
本发明提供一种碳化硅晶体生长方法及生长装置,生长装置包括:炉体支架、长晶炉组件、抽屉结构、设置在所述炉体支架上的第一气氛控制组件、设置在所述抽屉结构上的第二气氛控制组件、升降机构以及设置在所述炉体支架上的操作孔组件,其中,炉体支架中形成密封操作室,抽屉结构可以进出操作室,并在操作室中进行物料更换等操作。可以解决碳化硅晶体生长过程中有害气体影响的问题,通过对生长装置进行设计,并基于工艺条件控制,形成密封操作室,使得使长晶炉主体在开装炉过程中可以免除有害气体对炉膛、石墨保温与坩埚、原料等的污染,以降低长晶过程中排氮的难度,从而提升碳化硅晶体的质量与性能。

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供