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一种基于特征分析的粒子群聚类方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200910084161.2
  • IPC分类号:G06N3/00;G06N3/08;G06F17/30
  • 申请日期:
    2009-05-20
  • 申请人:
    中国科学院半导体研究所
著录项信息
专利名称一种基于特征分析的粒子群聚类方法
申请号CN200910084161.2申请日期2009-05-20
法律状态驳回申报国家中国
公开/公告日2010-11-24公开/公告号CN101894294A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06N3/00IPC分类号G;0;6;N;3;/;0;0;;;G;0;6;N;3;/;0;8;;;G;0;6;F;1;7;/;3;0查看分类表>
申请人中国科学院半导体研究所申请人地址
北京市海淀区清华东路甲35号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院半导体研究所当前权利人中国科学院半导体研究所
发明人邓貌;鲁华祥;金小贤;王徽蓉
代理机构中科专利商标代理有限责任公司代理人周国城
摘要
本发明公开了一种基于特征分析的粒子群聚类方法,包括以下步骤:步骤1:将样本空间待聚类的点集{X}通过核主分量KPCA方法投影到特征空间得到特征点集{S},求出特征点集{S}的非零特征值及其对应的特征向量;步骤2:特征挑选,选取相应p个特征向量,将特征点集{S}变为点集{Y};步骤3:对点集{Y}进行数据处理,更新形成新的点集{Y};步骤4:对新的点集{Y}进行粒子群聚类。本发明克服了当后续方法是非智能方法时必须手动挑选合适特征的麻烦。另外,本发明对变换到特征空间的点作出进一步处理,比如尺度变换、归一化处理等操作,有利于后续优化方法的应用。

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