双磁敏元件探头及基于探头的漏磁检测缺陷定量评价方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110680791.7
IPC分类号：G01N27/87;G01R33/02;G01R33/07;G06Q10/06;G06N3/04;G06N3/08
申请日期：
2021-06-18
申请人：
西安建筑科技大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	双磁敏元件探头及基于探头的漏磁检测缺陷定量评价方法
申请号	CN202110680791.7	申请日期	2021-06-18
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-09-14	公开/公告号	CN113390956A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N27/87 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N27/00 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 25/00优先；电或磁变量的测量或试验，材料的电磁性能的测试或试验入G01R） G01N27/72 通过测试磁变量 G01N27/82 用于测试缺陷的存在 G01N27/83 通过测试杂散磁场〔3〕 G01N27/87 利用探针〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;7;/;8;7;;;G;0;1;R;3;3;/;0;2;;;G;0;1;R;3;3;/;0;7;;;G;0;6;Q;1;0;/;0;6;;;G;0;6;N;3;/;0;4;;;G;0;6;N;3;/;0;8查看分类表>
申请人	西安建筑科技大学	申请人地址	陕西省西安市雁塔路13号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安建筑科技大学	当前权利人	西安建筑科技大学
发明人	时朋朋
代理机构	西安智大知识产权代理事务所	代理人	王晶

摘要

双磁敏元件探头及基于探头的漏磁检测缺陷定量评价方法，包括步骤一：对试件进行计算或测试，基于神经网络建立缺陷参数和检测信号之间的非线性快速计算模型；步骤二：基于实际检测获取的提离值关联漏磁信号，确定待检测信号，并初始化缺陷特征参数；步骤三：将缺陷特征参数代入检测信号神经网络快速计算模型，生成预测信号；步骤四：基于当前信号预测值和待检测信号计算损失函数值；步骤五：若损失函数值不满足预设精度，通过智能优化算法更新缺陷特征参数，并返回步骤三重复迭代过程；若满足精度，则结束迭代，输出当前迭代步计算得到的缺陷参数值。本发明有效克服实际检测中的提离值扰动对缺陷尺寸评价精度的影响，实现缺陷尺寸参数的准确评价。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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