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一种基于多点函数拟合的波前反馈控制的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201511013243.X
  • IPC分类号:H04L9/32;H04L9/08;H04B10/70;G02F1/01
  • 申请日期:
    2015-12-31
  • 申请人:
    中国工程物理研究院电子工程研究所
著录项信息
专利名称一种基于多点函数拟合的波前反馈控制的方法
申请号CN201511013243.X申请日期2015-12-31
法律状态授权申报国家暂无
公开/公告日2016-07-13公开/公告号CN105763332A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H04L9/32IPC分类号H;0;4;L;9;/;3;2;;;H;0;4;L;9;/;0;8;;;H;0;4;B;1;0;/;7;0;;;G;0;2;F;1;/;0;1查看分类表>
申请人中国工程物理研究院电子工程研究所申请人地址
四川省绵阳市919信箱522分箱 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国工程物理研究院电子工程研究所当前权利人中国工程物理研究院电子工程研究所
发明人龙衡;李沫;孙鹏;姚尧;陈飞良;李倩;代刚;张健
代理机构成都天嘉专利事务所(普通合伙)代理人蒋斯琪
摘要
本发明公开了一种基于多点函数拟合的波前反馈控制的方法,属于安全认证技术以及光学成像技术领域;本发明针对现有波前反馈控制算法收敛速度慢的问题,提出一种基于多点函数拟合的波前反馈控制算法,采用多点函数拟合的方法来获得当前调制单元相位的最优值,每次迭代中最少只需3次测量即可获得调制相位的最优值;同时,本发明结合了连续序列算法与分区算法,前期采用分区算法能够快速提高目标位置光强,当目标位置获得较大光强时改用连续序列算法。本发明提出的算法不仅提高了抗噪性能和最终光强增强因子,而且大大地提高了收敛速度,在光学PUF量子认证、光学成像等技术领域具有良好的应用前景。

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