卫星表面热辐射性能高精度原位测量设备

发明专利有效专利

申请号：
CN200710195518.5
IPC分类号：G01N25/00
申请日期：
2007-12-04
申请人：
北京卫星环境工程研究所

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著录项信息

专利名称	卫星表面热辐射性能高精度原位测量设备
申请号	CN200710195518.5	申请日期	2007-12-04
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2009-06-10	公开/公告号	CN101451968
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N25/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N25/00 应用热方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 23/00优先）	IPC分类号	G;0;1;N;2;5;/;0;0查看分类表>
申请人	北京卫星环境工程研究所	申请人地址	北京市海淀区友谊路104号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京卫星环境工程研究所	当前权利人	北京卫星环境工程研究所
发明人	冯伟泉;丁义刚;郑慧奇;刘宇明;赵雪
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明提供了一种卫星表面热辐射性能的原位测试装置，主要包括驱动装置、仪器盒、测试头、控制盒和定位开关，测试头设置在仪器盒上，驱动装置控制仪器盒在水平、垂直两个方向上平移以及水平和俯仰旋转，设置在测试头前端的定位开关来控制测试头与测量面之间的相对位置，控制盒与测试头电连接并控制测试头进行测量。本发明的装置可以完成卫星表面材料的热辐射性能的现场原位测试，并得到卫星表面材料性能当时的准确数据；同时本发明的测量装置不对测量的卫星表面构成污染；此外，测量装置不会损坏测量的卫星表面。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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