单模光纤双折射测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN85100420
IPC分类号：--
申请日期：
1985-04-01
申请人：
上海交通大学光纤技术研究所

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	单模光纤双折射测量方法
申请号	CN85100420	申请日期	1985-04-01
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	1986-08-13	公开/公告号	CN85100420
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	上海交通大学光纤技术研究所	申请人地址	上海市法华钲路535号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海交通大学光纤技术研究所	当前权利人	上海交通大学光纤技术研究所
发明人	黄上元;林宗琦
代理机构	上海专利事务所	代理人	颜承根

摘要

一种单模光纤双折射测量方法，特别适用于测量短拍长的单模光纤。此方法是利用消光法测出单模光纤在不同扭曲下的偏振状态，即测出两个输出线偏振态的传播相位差２φ的绝对值，绘出ｓｉｎ2φ～ａ2ｌ2曲线（此处ｌ2为光纤中间未粘部分的长度，ａ2为其扭曲率），将曲线极值点的横坐标代入公式（Ⅰ），求出双折射值。测量是通过单色光源、偏振片、物镜、光纤固定装置、光纤扭曲装置、四分之一波长片、光检测器等进行的。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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