传感器阵列的多阶段自电容扫描

发明专利有效专利

申请号：
CN201780076684.5
IPC分类号：G06F3/044
申请日期：
2017-08-16
申请人：
赛普拉斯半导体公司

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著录项信息

专利名称	传感器阵列的多阶段自电容扫描
申请号	CN201780076684.5	申请日期	2017-08-16
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2019-07-23	公开/公告号	CN110050253A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F3/044 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F3/00 用于将所要处理的数据转变成为计算机能够处理的形式的输入装置；用于将数据从处理机传送到输出设备的输出装置，例如，接口装置〔4〕 G06F3/01 用于用户和计算机之间交互的输入装置或输入和输出组合装置（G06F 3/16优先）〔8〕 G06F3/03 将部件的位置或位移转换成为代码形式的装置〔3，8〕 G06F3/041 以转换方式为特点的数字转换器，例如，触摸屏或触摸垫，特点在于转换方法〔8〕 G06F3/044 通过用电容性方式〔8〕	IPC分类号	G;0;6;F;3;/;0;4;4查看分类表>
申请人	赛普拉斯半导体公司	申请人地址	美国加利福尼亚州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	赛普拉斯半导体公司	当前权利人	赛普拉斯半导体公司
发明人	安德理·马哈瑞塔
代理机构	北京安信方达知识产权代理有限公司	代理人	张瑞;杨明钊

摘要

本文描述了用于传感器阵列的多阶段自电容(MPSC)扫描的技术。在示例实施例中，设备包括耦合到处理逻辑的传感器逻辑。传感器逻辑被配置成在多个扫描操作的每一个扫描操作中同时感测传感器阵列的多个传感器元件，以便获得多个测量值，其中每个测量值表示多个传感器元件的在相对应的扫描操作期间累积的收集电荷。处理逻辑被配置成基于所获得的多个测量值来确定数据值，其中数据值分别表示多个传感器元件的自电容。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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