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用于检测电子装置的自由下落的方法和设备

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200510098684.4
  • IPC分类号:G01P15/00;G05B19/04
  • 申请日期:
    2005-09-09
  • 申请人:
    三星电子株式会社
著录项信息
专利名称用于检测电子装置的自由下落的方法和设备
申请号CN200510098684.4申请日期2005-09-09
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2006-04-05公开/公告号CN1755373
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01P15/00IPC分类号G;0;1;P;1;5;/;0;0;;;G;0;5;B;1;9;/;0;4查看分类表>
申请人三星电子株式会社申请人地址
韩国京畿道 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人三星电子株式会社当前权利人三星电子株式会社
发明人权雄;卢庆植;韩宇燮;沈营辅;徐相珉
代理机构北京铭硕知识产权代理有限公司代理人韩明星;邱玲
摘要
本发明提供一种用于检测电子装置的自由下落的方法和设备。该方法包括:使用加速度传感器来感知该电子装置的下落加速度;确定感知到的下落加速度是否小于预定阈值;当感知到的下落加速度小于预定阈值时,确定下落加速度是否是具有统计显著性的统计常数并且是否在预定的时间内被保持;和当下落加速度是统计常数并且在预定的时间内被保持时,确定该电子装置自由下落。因此,可以正确地感知电子装置的自由下落,而不管当测量该电子装置的下落加速度时由于环境条件,如温度的变化和该电子装置旋转时产生的旋转加速度所产生的重力加速度的误差。

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