一种PCBA主板老化测试架

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201620853747.6
IPC分类号：G01R31/28;G01R1/04
申请日期：
2016-08-08
申请人：
深圳市德富莱智能科技股份有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种PCBA主板老化测试架
申请号	CN201620853747.6	申请日期	2016-08-08
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	深圳市德富莱智能科技股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市宝安区沙井街道沙三帝堂路第一工业区B11栋，B12栋第一、二层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市德富莱智能科技股份有限公司	当前权利人	深圳市德富莱智能科技股份有限公司
发明人	屠国权
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

一种PCBA主板老化测试架，包括主体、托盘和Socket，托盘可移除地安放于主体中，Socket安装于托盘上，所述主体有一个长方体状的机架，机架上部布置有风机，风机的下方有若干条托盘滑槽，托盘可移除地安装于托盘滑槽中；所述托盘包括一个长方形的底盘，该底盘两侧作为滑轨与主体上的托盘滑槽相适配，Socket可移除地安装于固定滑槽中；所述Socket 包括探针模块框架以及上盖组件。其发明目的是解决工业化中，大批量生产PCBA时，所出现的测试架重复使用的目的，测试架占地空间大,很大程度的减少了夹具数量难题，也解决生产线在切换时的高效问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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