电离层的压缩层析成像方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201110228343.X
IPC分类号：G06T11/00
申请日期：
2011-08-10
申请人：
中国科学院电子学研究所

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	电离层的压缩层析成像方法
申请号	CN201110228343.X	申请日期	2011-08-10
法律状态	撤回	申报国家	暂无
公开/公告日	2013-02-13	公开/公告号	CN102930562A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T11/00 2D［二维］图像的生成〔6〕	IPC分类号	G;0;6;T;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	中国科学院电子学研究所	申请人地址	北京市海淀区北四环西路19号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院电子学研究所	当前权利人	中国科学院电子学研究所
发明人	李芳;李廉林;刘艳丽
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	周国城

摘要

本发明公开了一种电离层的压缩层析成像方法(ComputerizedIonosphereTomography，CIT)，包括：步骤一：计算投影矩阵；步骤二：基于GPS原始数据计算TEC；步骤三：选择稀疏变换；步骤四：构造稀疏约束的优化目标函数；步骤五：求解步骤四所得的优化函数，完成电离层层析成像。本发明方法解决了传统电离层层析成像由于有限的观测数据导致的成像结果不确定的问题。该技术基于电离层电子密度分布的可压缩性(或可稀疏性)，实现基于有限观测数据的高精度电离层成像。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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该专利没有被任何外部专利所引用！

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