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用于表征等离子体处理室内的膜的射频偏置电容耦合静电(RFB-CCE)探针装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN200980126806.2
  • IPC分类号:H01L21/66;H01L21/205;H01L21/3065;H01L21/302
  • 申请日期:
    2009-07-07
  • 申请人:
    朗姆研究公司
著录项信息
专利名称用于表征等离子体处理室内的膜的射频偏置电容耦合静电(RFB-CCE)探针装置
申请号CN200980126806.2申请日期2009-07-07
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2011-06-01公开/公告号CN102084472A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/66IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;6;6;;;H;0;1;L;2;1;/;2;0;5;;;H;0;1;L;2;1;/;3;0;6;5;;;H;0;1;L;2;1;/;3;0;2查看分类表>
申请人朗姆研究公司申请人地址
美国加利福尼亚州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人朗姆研究公司当前权利人朗姆研究公司
发明人杰-保罗·布斯;吕克·阿尔巴雷德;金容;道格拉斯·L·凯尔
代理机构上海胜康律师事务所代理人周文强;李献忠
摘要
本发明提供一种表征衬底处理中处理室内衬底沉积膜的方法。该方法包括当测量电容器设定在第一电容值时,确定探针头的电压-电流特性。该方法还包括当测量电容器设定在大于第一电容值的电容值时,将射频列运用到探针头上。该方法进一步包括为沉积膜提供初始电阻值和初始电容值。该方法还包括运用初始电阻值、初始电容值以及电压-电流特性生成模拟电压-时间曲线。该方法还进一步包括确定测量电压-时间曲线,该测量电压-时间曲线反映射频列跨越沉积膜的电位降。该方法还包括比较该两条曲线。如果二者差值小于预定阈值,运用初始电阻值和初始电容值来表征沉积膜。

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