一种基于光学方法的大电流检测装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201210038670.3
IPC分类号：G01R19/00;G01R15/24
申请日期：
2012-02-20
申请人：
上海理工大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种基于光学方法的大电流检测装置
申请号	CN201210038670.3	申请日期	2012-02-20
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2012-07-18	公开/公告号	CN102590584A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R19/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R19/00 用于测量电流或电压或者用于指示其存在或符号的装置（G01R 5/00优先；用于测量生物电流或电压的入A61B 5/04）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;R;1;9;/;0;0;;;G;0;1;R;1;5;/;2;4查看分类表>
申请人	上海理工大学	申请人地址	上海市杨浦区军工路516号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海理工大学	当前权利人	上海理工大学
发明人	张学典;侯英龙;毛辰飞;鲁敦科;常敏
代理机构	上海伯瑞杰知识产权代理有限公司	代理人	吴泽群

摘要

本发明公开了一种基于光学方法的大电流检测装置，包括激光光源、偏振控制及检测器、磁光晶体以及PC机，所述偏振控制及检测器的光输入端与激光光源通过保偏光纤相连，所述磁光晶体的一端与偏振控制及检测器的光输出端通过保偏光纤相连，所述磁光晶体的另一端与偏振控制及检测器的检测端通过保偏光纤相连，所述PC机与所述偏振控制及检测器相连。偏振控制及检测器不仅可以使偏振光的o光与e光产生不同的相位延迟而且可以检测偏振光的偏振态，磁光晶体使偏振光在通过大电流产生的磁场后与入射光的偏振面有一个较大的偏角，本发明的测量装置中不含铁芯，不存在磁饱和、铁磁谐振等问题。

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