集成电路扫描测试的方法及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN202110844436.9
IPC分类号：G01R31/3185
申请日期：
2021-07-26
申请人：
苏州旗芯微半导体有限公司

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著录项信息

专利名称	集成电路扫描测试的方法及系统
申请号	CN202110844436.9	申请日期	2021-07-26
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-11-02	公开/公告号	CN113589153A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/3185 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/317 数字电路的测试〔6〕 G01R31/3181 性能测试（G01R 31/3177优先）〔6〕 G01R31/3185 测试的重新配置，例如LSSD，划分〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;1;8;5查看分类表>
申请人	苏州旗芯微半导体有限公司	申请人地址	江苏省苏州市虎丘区高新区金山东路78号集成电路产业创新中心213室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	苏州旗芯微半导体有限公司	当前权利人	苏州旗芯微半导体有限公司
发明人	杨文彬;万郁葱;陈志军
代理机构	南京艾普利德知识产权代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	陆明耀

摘要

本发明提供一种集成电路扫描测试的方法和系统，所述方法包括如下步骤：步骤S1，将待扫描测试集成电路中所有扫描模式的控制寄存器连成一条独立的扫描链，为第一扫描链；步骤S2，为每个扫描模式的控制寄存器复制一个影子寄存器,将所有影子寄存器连成第二扫描链；步骤S3，将待扫描测试集成电路中所有其他寄存器连成第三扫描链；步骤S4，增加一个扫描切换寄存器，配置至少两种测试向量，用于扫描切换；步骤S5，输入测试数据，由所述扫描切换寄存器配合对所述第一扫描链、第二扫描链和第三扫描链进行切换扫描测试，输出测试后数据，完成对集成电路的扫描测试。本发明所述集成电路扫描测试的方法及系统，提高了测试覆盖率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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