一种基于彩色结构光的二维三频解相测量方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200710052727.4
IPC分类号：G01B11/00;G01B11/03;G01B11/25;G01C11/08
申请日期：
2007-07-11
申请人：
华中科技大学

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著录项信息

专利名称	一种基于彩色结构光的二维三频解相测量方法
申请号	CN200710052727.4	申请日期	2007-07-11
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2007-12-19	公开/公告号	CN101089547
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;0;;;G;0;1;B;1;1;/;0;3;;;G;0;1;B;1;1;/;2;5;;;G;0;1;C;1;1;/;0;8查看分类表>
申请人	华中科技大学	申请人地址	湖北省武汉市洪山区珞瑜路1037号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华中科技大学	当前权利人	华中科技大学
发明人	周钢;王从军;李中伟;杜俊贤;朱本璋;秦大辉;张贵姣
代理机构	华中科技大学专利中心	代理人	曹葆青

摘要

一种基于彩色结构光的二维三频解相测量方法，步骤为：①制备三幅由二种频率相同的不同的三原色正弦光复合而成的光栅；②投影光栅到被测物体，利用二台相同CCD摄像机拍摄，获得24幅照片；③对拍摄的照片进行解相，得到各照片上各个像素点的X方向和Y方向上的相位值；④对两个相位值进行匹配，计算出各点的三维坐标。本发明克服了一唯方向上编码的缺陷和匹配精度不高的缺点，使得编码匹配更为有效和精确。避免了机械测量方法中因为接触变形所引起的测量误差，提高了测量精度；无需通过二维扫描来获取三维信息，提高了测量速度；可以同时记录物体的色彩信息，使反求工程从物体三维形状的获取进一步延伸到物体色彩的反求。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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