一种计入光子损失的玻色采样仿真方法、系统及介质

发明专利有效专利

申请号：
CN202011539865.7
IPC分类号：G06F30/20;G06N10/00;G06F111/08
申请日期：
2020-12-23
申请人：
华东计算技术研究所（中国电子科技集团公司第三十二研究所）

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种计入光子损失的玻色采样仿真方法、系统及介质
申请号	CN202011539865.7	申请日期	2020-12-23
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-03-26	公开/公告号	CN112560280A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F30/20	IPC分类号	G;0;6;F;3;0;/;2;0;;;G;0;6;N;1;0;/;0;0;;;G;0;6;F;1;1;1;/;0;8查看分类表>
申请人	华东计算技术研究所（中国电子科技集团公司第三十二研究所）	申请人地址	上海市嘉定区嘉罗路1485号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华东计算技术研究所（中国电子科技集团公司第三十二研究所）	当前权利人	华东计算技术研究所（中国电子科技集团公司第三十二研究所）
发明人	季阳;黄汛;叶永金;吴永政
代理机构	上海段和段律师事务所	代理人	李佳俊;郭国中

摘要

本发明提供了一种计入光子损失的玻色采样仿真方法、系统及介质，涉及量子通信技术领域，该方法包括：等效光学网络构造方法：产生对应计入光子损失的光学网络的等效幺正矩阵；输出模式概率分布求解方法：通过计算所述等效幺正矩阵的子矩阵积和式，产生计入光子损失的玻色采样输出模式概率分布仿真结果。本发明能够得到计入光子损失的玻色采样输出模式概率分布。

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