光谱响应度测量系统

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201320020643.3
IPC分类号：G01J3/28
申请日期：
2013-01-15
申请人：
中国石油大学（北京）

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	光谱响应度测量系统
申请号	CN201320020643.3	申请日期	2013-01-15
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/28 光谱测试（应用滤色器的入G01J 3/51）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;2;8查看分类表>
申请人	中国石油大学（北京）	申请人地址	北京市昌平区府学路18号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国石油大学（北京）	当前权利人	中国石油大学（北京）
发明人	赵昆;冯鑫;吕志清;陈少华
代理机构	北京三友知识产权代理有限公司	代理人	赵燕力

摘要

本实用新型为一种光谱响应度测量系统，包括光源、光路传输装置、探测器、样品室、信号采集、处理和控制装置；光源采用紫外、可见、红外光三种光源组合设计，可实现较大的光谱测量范围；样品室外侧设有磁场及磁场调节装置，样品室中设有温度探测和控制装置，可模拟出低温、强磁场环境；该光谱响应度测量系统可以增加测量光谱响应度的光谱范围，同时具有变温、变磁场特性，能够在低温及强磁场环境下进行测量，克服了现有光谱响应度测量装置的局限性；同时，实现了光谱响应度测试全流程自动测量，可保持测量系统良好封闭，避免手动操作带来误差。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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