一种核辐射刻度实验室一键校准控制系统及其控制方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201810866273.2
IPC分类号：G01T7/00;G05B19/05
申请日期：
2018-08-01
申请人：
中国船舶重工集团公司第七一九研究所

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著录项信息

专利名称	一种核辐射刻度实验室一键校准控制系统及其控制方法
申请号	CN201810866273.2	申请日期	2018-08-01
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-12-21	公开/公告号	CN109061717A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01T7/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01T 核辐射或X射线辐射的测量（材料的辐射分析，质谱测定法入G01N 23/00用以测定辐射或粒子的存在、强度、密度或能量的管入H01J 47/00） G01T7/00 辐射计量仪器的附件	IPC分类号	G;0;1;T;7;/;0;0;;;G;0;5;B;1;9;/;0;5查看分类表>
申请人	中国船舶重工集团公司第七一九研究所	申请人地址	湖北省武汉市江夏区藏龙岛开发区杨桥湖大道19号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国船舶重工集团公司第七一九研究所	当前权利人	中国船舶重工集团公司第七一九研究所
发明人	程翀;胡玉杰;王杰;郑文祥;张淮超;郭智荣;左亮周;代传波
代理机构	武汉天力专利事务所	代理人	吴晓颖

摘要

本发明涉及核辐射防护技术领域，提供一种核辐射刻度实验室一键校准控制系统及其控制方法，该系统包括操作站、控制器、数据处理显示单元、放射源控制装置、台车，所述放射源控制装置用于放置一个或多个放射源，控制寻源并暴露放射源建立标准场和屏蔽放射源关闭标准场；所述台车用于放置待校准仪表，并调节待校准仪表距离放射源的距离；该方法只需要根据仪表的量程范围选定待校准约定真值，按下“一键校准启动”按钮，等待校准完毕，即可得到各待校准约定真值的数据采集记录和最终的刻度系数，操作简单，可靠性高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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