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快闪存储器件的制造方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200610098827.6
  • IPC分类号:H01L21/8247;H01L21/762
  • 申请日期:
    2006-07-13
  • 申请人:
    海力士半导体有限公司
著录项信息
专利名称快闪存储器件的制造方法
申请号CN200610098827.6申请日期2006-07-13
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2007-08-15公开/公告号CN101017798
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/8247IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;8;2;4;7;;;H;0;1;L;2;1;/;7;6;2查看分类表>
申请人海力士半导体有限公司申请人地址
韩国京畿道利川市 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人海力士半导体有限公司当前权利人海力士半导体有限公司
发明人玄灿顺
代理机构北京集佳知识产权代理有限公司代理人杨生平;杨红梅
摘要
根据一实施方案,形成非易失性存储器件的方法包括通过刻蚀衬底以形成第一和第二沟道。第一和第二沟道填充有绝缘材料以形成第一和第二层隔离结构。在第一和第二隔离结构上方和第一和第二隔离结构之间形成导电层,以形成浮动栅极。刻蚀导电层和第一隔离结构形成具有上部和下部的第三沟道,所述上部具有垂直侧壁,所述下部具有倾斜侧壁。第三沟道填充有导电材料以形成控制栅极。

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