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用于半导体封装的银合金焊接导线

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201410040467.9
  • IPC分类号:H01L23/49;H01B1/02
  • 申请日期:
    2014-01-27
  • 申请人:
    光洋应用材料科技股份有限公司
著录项信息
专利名称用于半导体封装的银合金焊接导线
申请号CN201410040467.9申请日期2014-01-27
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2014-08-13公开/公告号CN103985687A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L23/49IPC分类号H;0;1;L;2;3;/;4;9;;;H;0;1;B;1;/;0;2查看分类表>
申请人光洋应用材料科技股份有限公司申请人地址
中国台湾台南市安南区工业三路1号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人光洋应用材料科技股份有限公司当前权利人光洋应用材料科技股份有限公司
发明人黄威智;洪子翔;彭政展;郑惠文
代理机构上海一平知识产权代理有限公司代理人须一平
摘要
一种用于半导体封装的银合金焊接导线,包含一银合金组份,包括银、钯,及一第一添加剂,基于该银合金组份的重量百分比以100wt%计,钯的重量百分比大于0且不大于2wt%,该第一添加剂的重量百分比不小于0.001wt%,且不大于2wt%,该第一添加剂选自铟、锡、钪、铋、锑、锰、锌,及其中一组合。本发明通过预定比例的钯及该第一添加剂,进而有效提升经引线键合后银合金焊接导线所形成弧形的稳定度,且不易倾倒。

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