试样支撑体

发明专利有效专利

申请号：
CN201880060457.8
IPC分类号：G01N27/62;H01J49/04
申请日期：
2018-08-03
申请人：
浜松光子学株式会社

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	试样支撑体
申请号	CN201880060457.8	申请日期	2018-08-03
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-05-01	公开/公告号	CN111094967A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N27/62 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N27/00 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 25/00优先；电或磁变量的测量或试验，材料的电磁性能的测试或试验入G01R） G01N27/62 通过测试气体的电离，通过测试放电，例如阴极发射	IPC分类号	G;0;1;N;2;7;/;6;2;;;H;0;1;J;4;9;/;0;4查看分类表>
申请人	浜松光子学株式会社	申请人地址	日本静冈县变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	浜松光子学株式会社	当前权利人	浜松光子学株式会社
发明人	大村孝幸;小谷政弘
代理机构	北京尚诚知识产权代理有限公司	代理人	杨琦

摘要

试样支撑体(1)包括基板(2)和电离基板(3)。电离基板(3)在第2表面(3b)上具有用于滴落试样的测量区域(R)。在电离基板(3)的至少测量区域(R)形成有在第1表面(3a)和第2表面(3b)开口的多个贯通孔(3c)。至少在第2表面(3b)上的贯通孔(3c)的周缘部设置有导电层(4)。基板(2)的电离基板(3)侧的至少一部分以能够使试样移动到基板(2)的内侧的方式形成。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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