高空间分辨激光差动共焦光谱‑质谱显微成像方法与装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201510116890.7
IPC分类号：G01N21/71;G01N27/64
申请日期：
2015-03-17
申请人：
北京理工大学

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专利名称	高空间分辨激光差动共焦光谱‑质谱显微成像方法与装置
申请号	CN201510116890.7	申请日期	2015-03-17
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-06-03	公开/公告号	CN104677885A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/71 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/62 所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统〔3〕 G01N21/71 热激发的〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;7;1;;;G;0;1;N;2;7;/;6;4查看分类表>
申请人	北京理工大学	申请人地址	北京市海淀区中关村南大街5号北京理工大学变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京理工大学	当前权利人	北京理工大学
发明人	赵维谦;邱丽荣
代理机构	北京理工正阳知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	王民盛

摘要

本发明一种高空间分辨激光差动共焦光谱‑质谱显微成像方法与装置，属于共焦显微成像技术、光谱成像技术和质谱成像技术领域。本发明将差动共焦成像技术、质谱成像技术和光谱探测技术相结合，利用高空间分辨差动共焦系统的聚焦光斑对样品进行轴向定焦与成像，利用质谱系统对高空间分辨差动共焦系统聚焦光斑解吸电离样品而产生的带电分子、原子等进行微区质谱成像，利用光谱探测系统对高空间分辨差动共焦系统聚焦光斑解吸电离样品而产生的等离子体的发射光谱信息进行光谱成像，再通过探测数据融合处理来实现样品微区高分辨形态与组分探测。本发明克服了现有共焦成像技术无法抑制焦面杂散光干扰的缺陷，为质谱高分辨成像提供一个新的有效技术途径。

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