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光学测量装置和光学测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010249528.8
IPC分类号：--
申请日期：
2020-04-01
申请人：
株式会社三丰

基础信息

权利要求

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	光学测量装置和光学测量方法
申请号	CN202010249528.8	申请日期	2020-04-01
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2020-10-20	公开/公告号	CN111795642A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	株式会社三丰	申请人地址	日本神*** 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社三丰	当前权利人	株式会社三丰
发明人	今泉良一;谷口一郎
代理机构	北京市柳沈律师事务所	代理人	王冉

摘要

一种光学测量装置，包括：发射装置，配置为向物体发射光轴平行移动的扫描光；光接收元件，配置为对经过物体之后的扫描光进行光电转换；计算装置，配置为从由光接收元件输出的电信号的时间变化获得的电压波计算当扫描光的一部分对于时间范围被物体中断时与从相对于扫描光不被物体中断的电压值的第一边缘和相对于扫描光被物体中断的电压值的第二边缘的时间范围相对应的距离。

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