一种测试方法和系统

发明专利无效专利

申请号：
CN200910077512.7
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2009-01-21
申请人：
北京创毅视讯科技有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种测试方法和系统
申请号	CN200910077512.7	申请日期	2009-01-21
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2009-06-24	公开/公告号	CN101464491
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	北京创毅视讯科技有限公司	申请人地址	北京市海淀区中关村大街11号亿世界财富中心A座12层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京博信视通科技有限公司	当前权利人	北京博信视通科技有限公司
发明人	张辉;王西强;苏占峰;刘永元;张炎;杨浴光
代理机构	北京德琦知识产权代理有限公司	代理人	王琦;王诚华

摘要

本发明公开了一种测试方法，包括：被测设备(DUT)获取来自自动测试设备(ATE)的测试程序，根据所述测试程序进行初始化；所述DUT接收测试信号，根据所述测试信号进行测试，并输出测试结果；所述ATE读取所述测试结果，并根据所述测试结果确定所述DUT是否符合要求。本发明同时公开了一种测试系统。应用本发明所述的方法和系统，能降低测试成本和提高故障覆盖率，且易于实现。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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