测试卡

1.一种测试卡，包括：
一通讯接口模块；
一测试接口模块，用于与一待测电脑系统的待测数据接口连接；
一阻值调节模块，与所述测试接口模块连接；
一电压测量模块，用于测量所述阻值调节模块的输入电压并输出所述输入电压的值；
一微控制器，用于调整所述阻值调节模块的阻值；还用于接收来自所述电压测量模块输出的所述输入电压的值并通过所述通讯接口模块输出所述输入电压的值及所述阻值调节模块的阻值；及
一信号处理模块，与所述通讯接口模块连接，用于接收来自所述通讯接口模块输出的所述输入电压的值并将其与一基准电压值进行比较以判断二者的大小，并在所述输入电压的值小于所述基准电压值时根据所述阻值调节模块的阻值大小判断所述待测电脑系统的待测数据接口的负载能力大小，所述阻值调节模块的阻值越小，所述待测电脑系统的待测数据接口的负载能力越大。
2.如权利要求1所述的测试卡，其特征在于：所述通讯接口模块至少包括USB接口、串口、并口、IEEE1394接口及ESATA接口中的一个。
3.如权利要求1所述的测试卡，其特征在于：所述测试接口模块至少包括PCI接口、PCIE接口及USB接口中的一个。
4.如权利要求1所述的测试卡，其特征在于：所述阻值调节模块包括一数字电位器，通过所述微控制器控制所述数字电位器以调节所述阻值调节模块与所述测试接口模块连接的阻值。
5.如权利要求1所述的测试卡，其特征在于：所述阻值调节模块至少包括多个继电器及多个阻值不同的电阻，通过所述微控制器控制所述继电器来选择不同的电阻与所述测试接口模块连接。

测试卡\n技术领域\n[0001] 本发明涉及一种测试卡，特别涉及一种对系统进行负载测试的测试卡。\n背景技术\n[0002] 随着电脑功能的扩展能力愈来愈强，例如声卡、网卡、显卡以及USB外设等的介入，电脑系统的稳定性及可靠性也愈加重要，电脑系统的扩展接口的负载能力成为电脑系统的稳定性的重要考察因素。\n[0003] 一般地，电脑系统的扩展接口（例如PCIE接口）的输出电压随着扩展接口的所接外设的阻值的减小而降低，所述扩展接口的输出电压必须大于插置于该扩展接口的外设的最小工作电压以保证该外设能够正常工作。在该扩展接口所接的外设减小相同阻值的情况下，扩展接口的输出电压的降低幅度越小说明扩展接口的负载能力越大，也就是当扩展接口的电压降低到一设定值时，扩展接口所接的外设的阻值越小说明该扩展接口的负载能力越大。\n[0004] 具体地，通过一张监测卡来对电脑系统的扩展接口进行测试。虽然监测卡能够达到检测扩展接口的目的，但只是检测扩展接口的回路是否通畅，并不能测试扩展接口的负载能力的大小。\n发明内容\n[0005] 鉴于以上内容，有必要提供一种用于测试电脑系统的扩展接口的负载能力的测试卡。\n[0006] 一种测试卡，包括：\n[0007] 一通讯接口模块；\n[0008] 一测试接口模块，用于与一待测电脑系统的待测数据接口连接；\n[0009] 一阻值调节模块，与所述测试接口模块连接；\n[0010] 一电压测量模块，用于测量所述阻值调节模块的输入电压并输出所述输入电压的值；\n[0011] 一微控制器，用于调整所述阻值调节模块的阻值；还用于接收来自所述电压测量模块输出的所述输入电压的值并通过所述通讯接口模块输出所述输入电压的值及所述阻值调节模块的阻值；及\n[0012] 一信号处理模块，与所述通讯接口模块连接，用于接收来自所述通讯接口模块输出的所述输入电压的值并将其与一基准电压值进行比较以判断二者的大小，并在所述输入电压的值小于所述基准电压值时根据所述阻值调节模块的阻值大小判断所述待测电脑系统的负载能力的大小，所述阻值调节模块的阻值越小，所述待测电脑系统的待测数据接口的负载能力越大。\n[0013] 本发明测试卡通过所述测试接口模块与待测数据接口连接，所述微控制器调整所述阻值调节模块接至所述测试接口模块的阻值，所述电压测量模块测量所述阻值调节模块的输入电压的值并传送给微控制器，然后所述微控制器通过所述通讯接口模块将所述输入电压的值及阻值调节模块的阻值传送给所述信号处理模块，所述输入电压的值随所述阻值调节模块的阻值的减小而降低，当所述输入电压的值是否小于所述基准电压值时，所述信号处理模块根据所述输入电压的值判断所述待测数据接口的负载能力的大小，简单方便。\n附图说明\n[0014] 下面参照附图结合具体实施方式对本发明作进一步的描述。\n[0015] 图1是本发明测试卡的较佳实施方式与一待测电脑系统的框图。\n[0016] 主要元件符号说明\n[0017] 测试卡 100\n[0018] 通讯接口模块 10\n[0019] 测试接口模块 20\n[0020] 阻值调节模块 30\n[0021] 电压测量模块 40\n[0022] 微控制器 50\n[0023] 信号处理模块 60\n[0024] 待测电脑系统 200\n[0025] 待测数据接口 210\n具体实施方式\n[0026] 请参照图1，本发明测试卡100的较佳实施方式包括一通讯接口模块10、一测试接口模块20、一阻值调节模块30、一电压测量模块40、一微控制器50及一信号处理模块60。\n所述通讯接口模块10、阻值调节模块30及电压测量模块40均与所述微控制器50连接，所述测试接口模块20与所述阻值调节模块30连接；所述通讯接口模块10还用于与所述信号处理模块60连接；所述测试接口模块20还与一待测电脑系统200的待测数据接口210连接。\n[0027] 所述通讯接口模块10包括USB接口、串口、并口、IEEE1394接口及ESATA接口等通讯接口中的一个或多个。\n[0028] 由于待测电脑系统200的待测数据接口210可以是PCI接口、PCIE接口及USB接口等接口类型中的一个或多个，所以所述测试接口模块20需包括所有与所述待测数据接口210的类型对应的接口，可为PCI接口、PCIE接口及USB接口等接口类型中的一个或多个。\n[0029] 所述阻值调节模块30包括一可供所述微控制器50进行控制以改变阻值的数字电位器；也可包括多个继电器及多个阻值不同的电阻，所述继电器受所述微控制器50的控制用于选择哪个电阻与所述测试接口模块20连接。\n[0030] 所述电压测量模块40用于测所述阻值调节模块30的输入电压，其具体电路属现有技术，此处不做具体说明。\n[0031] 所述信号处理模块60可以包括一电脑。\n[0032] 以下对本发明测试卡100的工作原理进行说明。\n[0033] 对待测数据接口210进行测试时，先将所述测试接口模块20中的一个类型的接口插置于所述待测数据接口210中的对应类型的接口，所述微控制器50先控制所述阻值调节模块30的阻值为最大值以保证所述待测电脑系统200的待测数据接口210的输出电压大于一基准电压，所述基准电压等于或略大于可插置于所述待测数据接口210且得到该待测电脑系统200支持的外设（比如显卡）的最小工作电压，可通过查询外设所用的芯片的手册得到各芯片的最小工作电压；然后以每次减小一设定阻值（如－50Ω）的方式逐渐减小所述阻值调节模块30的阻值，阻值调节模块30的输入电压随自身的阻值的减小而降低，同时，所述电压测量模块40测量所述阻值调节模块30的输入电压的值并传送给所述微控制器50，所述微控制器50通过所述通讯接口模块10将所述输入电压的值及阻值调节模块30的阻值传送给所述信号处理模块60记录、显示并与所述基准电压的值进行比较。当所述输入电压的值小于所述基准电压的值时，所述所述信号处理模块60控制所述所述微控制器\n50停止继续减小所述阻值调节模块30的阻值，所述信号处理模块60用此时的阻值调节模块30的阻值代表所述待测数据接口210中的该类型接口的负载能力的大小。此时的阻值调节模块30的阻值越小说明所述待测数据接口210中的该类型接口的负载能力越大。\n[0034] 同理，可将所述测试接口模块20上的数据接口中的其它类型的接口对应插置于所述待测数据接口210中的其它类型的接口，以测试所述待测数据接口210中的其它类型的接口的负载能力的大小。\n[0035] 本发明测试卡100通过所述微控制器50调整所述阻值调节模块30的接至所述测试接口模块20的阻值，所述电压测量模块40测量所述阻值调节模块30的输入电压的值并传送给微控制器50，所述微控制器50通过所述通讯接口模块10将所述输入电压的值及阻值调节模块30的阻值传送给所述信号处理模块60，所述输入电压的值随所述阻值调节模块30的阻值的减小而降低，当所述输入电压的值小于所述基准电压值时，所述信号处理模块60根据所述输入电压的值判断所述待测数据接口210的负载能力的大小，简单方便。