一种测量单微粒中铀同位素比的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201410520285.1
IPC分类号：G01N1/28;G01N27/64
申请日期：
2014-09-30
申请人：
中国原子能科学研究院

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著录项信息

专利名称	一种测量单微粒中铀同位素比的方法
申请号	CN201410520285.1	申请日期	2014-09-30
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-12-24	公开/公告号	CN104236978A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N1/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N1/00 取样；制备测试用的样品（用于自动分析的材料处理入G01N 35/00） G01N1/28 测试用样品的制备（将样品安装在显微镜载片上入G02B 21/34；电子显微镜中支承被分析的物品或材料的装置入H01J 37/20）	IPC分类号	G;0;1;N;1;/;2;8;;;G;0;1;N;2;7;/;6;4查看分类表>
申请人	中国原子能科学研究院	申请人地址	北京市房山区北京市275信箱65分箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国原子能科学研究院	当前权利人	中国原子能科学研究院
发明人	王凡;张燕;赵永刚;李力力;李金英;鹿捷
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明属于核技术监控技术领域，公开了一种测量单微粒中铀同位素比的方法。该方法是首先由扫描电子显微镜寻找含铀微粒并由微操系统将其转移至表面粘有标记金属网的导电胶上，用以定位和固定，然后再利用激光烧蚀‑电感耦合等离子体质谱分析仪器对同位素比进行分析。该法具有前处理方法简单快捷、分析流程简化且分析精密度达到1％的优点。

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