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一种用于碲镉汞器件增透膜层生长的装置

实用新型专利无效专利
  • 申请号:
    CN200920222432.1
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2009-09-08
  • 申请人:
    中国电子科技集团公司第十一研究所
著录项信息
专利名称一种用于碲镉汞器件增透膜层生长的装置
申请号CN200920222432.1申请日期2009-09-08
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人中国电子科技集团公司第十一研究所申请人地址
北京市朝阳区酒仙桥路4号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国电子科技集团公司第十一研究所当前权利人中国电子科技集团公司第十一研究所
发明人孙浩;马涛;王成刚;朱西安
代理机构信息产业部电子专利中心代理人郭禾
摘要
本实用新型公开了一种用于碲镉汞器件增透膜层生长的装置,所述装置包括:靶材,安装在增透膜层生长腔室的底部,并通过匹配箱与射频电源连接;样品托,安装在增透膜层生长腔室的顶部,所述样品托上设置有具有样品槽的内嵌式样品盘,所述样品槽外部设置有压片,所述压片中间设置有孔,孔的形状、大小与碲镉汞器件需要镀膜的区域一致,且所述压片上的孔与所述靶材上下对正。本实用新型通过上述装置对碲镉汞器件进行增透膜层生长,由于设置有压片,在需要保护的读出电路没有生长上增透膜层,保证了器件的电学连通,并且没有对探测器器件产生附加损伤,达到了良好的无损伤生长目的。

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