内存的区段同步化测试方法与电路

发明专利无效专利

申请号：
CN01131351.X
IPC分类号：--
申请日期：
2001-09-28
申请人：
旺宏电子股份有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	内存的区段同步化测试方法与电路
申请号	CN01131351.X	申请日期	2001-09-28
法律状态	撤回	申报国家	暂无
公开/公告日	2003-04-09	公开/公告号	CN1409384
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	旺宏电子股份有限公司	申请人地址	台湾省新竹科学工业园区力行路16号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	旺宏电子股份有限公司	当前权利人	旺宏电子股份有限公司
发明人	赖贤哲
代理机构	北京集佳专利商标事务所	代理人	王学强

摘要

一种内存的区段同步化测试方法与电路，用以测试数个内存组件，包括电可编程或电可擦除的数个内存，此内存的区段同步化测试电路包括一读写器、一选择开关以及复数个测试接口。当这些内存同时进行编程动作或擦除动作时，则选择开关会接通并联输出端的通路，使这些待测的内存并联在一起，读写器可传送与接收一测试信号，并且根据此测试信号可对这些内存同时进行编程动作或擦除动作。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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